| 名前 |
高橋 琢二（たかはし たくじ） |
| 役職 |
東京大学 生産技術研究所 助教授 |
| 学位 |
博士（工学） |
| 経歴 |
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専門分野
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ナノエレクトロニクス |
| 研究テーマ |
走査プローブ顕微鏡（SPM）を利用したナノプロービング技術の構築
- レーザ光照射下での走査プローブ顕微鏡（SPM）による特性評価
- 導電性探針を有する原子間力顕微鏡（AFM）を用いた静電引力計測
- ケルビンプローブフォース顕微鏡（KFM）による半導体表面電位分布計測
- 磁気力顕微鏡（MFM）を利用した非接触局所電流計測
- 新しい走査トンネル分光法の開発
- 半導体を探針とする新しい機能を持ったSTMの開発
（発表文献リスト）
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担当講義
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- 半導体デバイス基礎（大学院電子工学専攻）
- 半導体物性概論（大学院先端学際工学専攻）
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| 所属学会等 |
- 応用物理学会 正会員
- 電子情報通信学会 正会員
- 電気学会 正会員
- 応用物理学会・会誌編集委員
- 電気学会・Ｃ部門・電子デバイス技術委員会 委員
- 電子情報通信学会・ELEX編集委員
- 表面科学会・学会誌編集委員
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受賞
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- 第3回（1997年秋季）応用物理学会講演奨励賞
- 電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ
平成14年度エレクトロニクスレター論文賞
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